Taylor Surtronic S128-技術(shù)參數(shù)詳解

• 更新時(shí)間：2017-05-08
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Taylor Surtronic S128-技術(shù)參數(shù)詳解
Surtronic S100系列取代了舊的Taylor Hobson型號(hào)Surtronic 25，Surtronic 3+和Surtronic 3P，Surtronic S100系列中的型號(hào)Surtronic S128便攜式表面光潔度計(jì)為您的粗糙度測(cè)量要求提供了多功能的解決方案。功能包括大型加固顯示器，長(zhǎng)壽命電池和簡(jiǎn)單的菜單結(jié)構(gòu)。

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Taylor Surtronic S128-技術(shù)參數(shù)詳解

篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國(guó)有企業(yè)、汽車(chē)制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專(zhuān)院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線(xiàn)、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評(píng)價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動(dòng)著精良制造技術(shù)的精益求精。

Surtronic S100系列取代了舊的Taylor Hobson型號(hào)Surtronic 25，Surtronic 3+和Surtronic 3P，Surtronic S100系列中的型號(hào)Surtronic S128便攜式表面光潔度計(jì)為您的粗糙度測(cè)量要求提供了多功能的解決方案。功能包括大型加固顯示器，長(zhǎng)壽命電池和簡(jiǎn)單的菜單結(jié)構(gòu)。 Surtronic可以獨(dú)立使用（水平，垂直或甚至倒置的表面）或臺(tái)式安裝，用于分批表面粗糙度測(cè)量和實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用。

• 具有直角連接和超過(guò)70mm觸針的50mm觸控筆提升可以確保即使是挑戰(zhàn)性的表面也可以測(cè)量，而無(wú)需昂貴的固定。防滑V形腳允許將Surtronic用于平面或曲面。
• Surtronic S100非常耐用，具有耐沖擊的橡膠模制件，圍繞凹陷，高耐用性的觸摸屏。
• 防滑V型腳可使Surtronic粗糙度檢查器在平面或曲面上使用

Talyprofile Lite軟件作為標(biāo)準(zhǔn)配置，提供表面處理分析*，自動(dòng)模板，圖形和易于使用的桌面出版。

Taylor Surtronic S128-技術(shù)參數(shù)詳解

特征：

多個(gè)表面粗糙度參數(shù)選項(xiàng)，以適應(yīng)您的應(yīng)用
堅(jiān)固的顯示：每頁(yè)zui多7個(gè)參數(shù)加圖
測(cè)量周期快
*的觸控筆提升機(jī)構(gòu)，具有*的靈活性
長(zhǎng)橫移長(zhǎng)度和延長(zhǎng)接收距離
內(nèi)置存儲(chǔ) - 多達(dá)100組表面粗糙度測(cè)量結(jié)果以及USB端口，實(shí)現(xiàn)*連接
耐用的可充電電池 - 從單次充電可達(dá)2000次測(cè)量

表面處理參數(shù)適合您的應(yīng)用：
Surtronic S100可以根據(jù)您的測(cè)量應(yīng)用計(jì)算各種表面光潔度參數(shù)，包括：

幅度參數(shù)（測(cè)量表面偏差的垂直特性）：
Ra（算術(shù)平均偏差，以前稱(chēng)為CLA或AA）

Rsk（Skewness）

Rz（平均峰谷高度）

Rv（取樣長(zhǎng)度內(nèi)平均線(xiàn)以下的zui大剖面深度）

Rt（輪廓總高度）

Rp（zui大輪廓峰高）

Rz1max（也稱(chēng)為Ry或Rmaz）（Max Peak to valley）

間距參數(shù)（測(cè)量表面偏差的水平特征）：
RPc（峰值計(jì)數(shù)）

RSm（輪廓元素的平均寬度）

混合參數(shù)（間距和振幅參數(shù)的組合）：

Rmr（材料比）

Rdq - R Delta q（采樣長(zhǎng)度內(nèi)輪廓的均方根斜率）

上述參數(shù)涵蓋了檢查潤(rùn)滑，進(jìn)料速率，應(yīng)力，摩擦和磨損性能的zui常見(jiàn)要求。