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Fischer XDAL237 X射線熒光測(cè)厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測(cè)量空間寬大，可以用于測(cè)量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測(cè)量諸如印刷線路板等大平面樣品。測(cè)量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺(tái)，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面 -
菲希爾x射線鍍層測(cè)厚儀fischer xdv-sdd FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下，可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率，從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測(cè)下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測(cè)量。 -
X-RAY XUL/XULM電鍍或電子元件鍍層測(cè)厚儀 在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且準(zhǔn)確地測(cè)定鍍層厚度時(shí)，XUL® 系列測(cè)量儀器是您的*選解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量，能夠在測(cè)量臺(tái)上對(duì)樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測(cè)器。您可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。
